手持式光譜儀中的基體效應(yīng)
手持式光譜儀中的基體效應(yīng)：在實(shí)際工作中被測量的樣品，往往其成份是由多種元素組成，除待測元素以外的元素統(tǒng)稱為基體。由于被測量的樣品中，其基體成份是變化的（這個(gè)變化一是指元素的 變化，二是指含量的變化），它直接影響待測元素特征X射線強(qiáng)度的測量。換句話說，待測元素含量相同，由于其基體成份不同，測量到的待測元素特征X射線強(qiáng)度 是不同的，這就是基體效應(yīng)。基體效應(yīng)是X射線熒光定量分析的主要誤差來源之一。
基體效應(yīng)是個(gè)無法避免的客觀事實(shí)，其物理實(shí)質(zhì)是激發(fā)（吸收）和散射造成特征X射線強(qiáng)度的變化，除待測元素外，基體成份中靠近待測元素的那些元素對(duì)激發(fā)源的 射線和待測元素特征X射線產(chǎn)生光電效應(yīng)的幾率比輕元素（在地質(zhì)樣品中一些常見的主要造巖元素）的幾率大得多，也就是這些鄰近元素對(duì)激發(fā)源發(fā)射的X射線和待 測元素的特征X射線的吸收系數(shù)比輕元素大得多；輕元素對(duì)激發(fā)源放出的射線和待測元素的特征X射線康普頓散射幾率比重元素大得多。
為了敘述方便，假設(shè)樣品中存在待測元素A，相鄰元素B、C和輕元素。B元素的原子序數(shù)比A元素的原子序數(shù)大一些，B元素能被放射源放出的射線所激發(fā)產(chǎn)生B元素的特征X射線 BK,BKX射線又能激發(fā)A元素；C元素的原子序數(shù)小于待測元素A的原子序數(shù)，且能被A元素特征X射線所激發(fā)產(chǎn)生C元素特征X射線；輕元素的原子序數(shù)測距 A、B、C元素的原子序數(shù)較遠(yuǎn)，被激發(fā)的幾率很小，可以忽略不計(jì)，那么對(duì)待測元素A特征X射線強(qiáng)度的影響有以下幾個(gè)方面：
1) 放射源放出的射線激發(fā)待測元素A，產(chǎn)生特征X射線AK線稱為光電效應(yīng)。手持式合金分析儀價(jià)格
2) AKX線在出射樣品時(shí)遇到C元素激發(fā)了C元素特征X射線CK而A元素特征X射線強(qiáng)度減小了，稱為吸收效應(yīng)。
3) 放射源激發(fā)了B元素，BKX線又激發(fā)了A元素，使A元素特征X射線計(jì)數(shù)增加，稱為增強(qiáng)效應(yīng)，又稱為二次熒光。
4) 放射源激發(fā)了元素C和元素B，使得激發(fā)元素A幾率減小。
5) 放射源放出的射線與輕元素相互作用發(fā)生康普頓效應(yīng)，可能發(fā)生一次康普頓效應(yīng)也可能發(fā)生多次康普頓效應(yīng)，發(fā)生康普頓效率之后射線能量損失一部分在出射樣品路程中可能會(huì)激發(fā)元素A、B、C，也可能不發(fā)生作用，稱為康普頓效應(yīng)。
以上只是描繪了一個(gè)簡單的圖象，實(shí)際上X射線的吸收、增強(qiáng)、散射過程要復(fù)雜得多。若待測元素與標(biāo)準(zhǔn)的基體成份不一致，必然會(huì)使分析結(jié)果出現(xiàn)較大誤差。這就是吸收效應(yīng)、增強(qiáng)效應(yīng)、散射效應(yīng)影響，統(tǒng)稱為基體效應(yīng)。
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